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在IC设计阶段，为保证所设计的产品顺利上市，具有更高的竞争力，很多工程师会进行可测性设计确保无误，其中常用的方法莫过于基于JTAG的可测性设计，今天就给小伙伴们科普基于JTAG的可测性设计，希望能帮上忙。
JTAG，也叫做边界扫描BSD，最初是由欧洲测试工程师所提出的标准，这些测试工程师自称JETAG，后来美国工程师加入该组织，开始自称JTAG，JTAG组织提出一种技术，在芯片便捷加上串行移位寄存器，以实现对芯片的测试，该技术叫做边界扫描。
若工程师决定采用便捷扫描技术，需要进行以下步骤：
①将测试向量载入到便捷扫描单元地，此操作应串行完成。
②将边界扫描单元中的内容载入到设计中，此操作应并行完成。
③将设计的响应移入到边界扫描单元，此操作应并行完成、
④将响应从边界扫描单元移出去，此操作应串行完成。
为了使边界扫描单元构成的扫描链能支持串行输入/串行输出、并行输入/并行输出，边界扫描单元应具有串行输入端口（用SI表示）、串行输出端口（用SO表示）、并行输入端口（用PI表示）和并行输出端口（用PO表示）。同时边界扫描单元的具体构造跟它能完成的功能有关。
在JTAG标准中，还加入了TMS端口。它有什么用处呢?
TMS即测试模式选择(Test Mode Select) ， 用于控制测试模式
实际上，不要仅仅将JTAG看作是一个由边界扫描寄存器组成的串行边界扫描链。 JTAG定义了许多非常灵活的功能。 如在一个由多个IC组成的板级系统中，JTAG可检查其中某一个芯片的引脚连接性而忽略其他芯片。
具体地说，由TMS端口输入的控制信号影响JTAG控制状态机，从而影响边界扫描链的功能。这样，在JTAG中，除了边界扫描链，还需要状态控制器 (TAP)，用来控制JTAG口的状态。
除了边界扫描链和TAP控制器，在一个JTAG结构中，还包括以下寄存器:
旁路寄存器 (bypass register)
指令寄存器 (instruction register)
标识寄存器(identification register)
