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RTL可测性设计—DFT

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RTL可测性设计—DFT

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可测性设计中常见问题及解决方法（上）

在IC设计中，可测性设计是很重要的内容，如果设计不当，将导致后续测试无法进行，或覆盖率降低，这两种都会大幅降低IC产品的竞争力，因此IC设计必须做好可测性设计，保证测试无误，下面就盘点可测性设计中遇见的问题及解决方法。1、设计中用到了时钟的

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可测性IC设计时序

可测性设计中常见问题及解决方法（上）

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可测性设计中常见问题及解决方法（下）

之前我们聊了可测性设计的四个常见问题及解决方法，接下来将更新下篇，希望能够帮助到小伙伴们，以及若是想看上篇，可点击右侧链接《可测性设计中常见问题及解决方法（上）》。5、有内部生成的异步复位、置位信号；内部生成的异步复位、置位信号的处理：有些

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IC设计可测性锁存器

可测性设计中常见问题及解决方法（下）

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IC设计进阶学习：基于JTAG的可测性设计

在IC设计阶段，为保证所设计的产品顺利上市，具有更高的竞争力，很多工程师会进行可测性设计确保无误，其中常用的方法莫过于基于JTAG的可测性设计，今天就给小伙伴们科普基于JTAG的可测性设计，希望能帮上忙。JTAG，也叫做边界扫描BSD，最初

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JTAGIC设计可测性

IC设计进阶学习：基于JTAG的可测性设计

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