扫码关注
- 全部
- 默认排序
HIC失效模式和失效机理
混合集成电路（HIC）的主要失效模式包括厚薄布线基板及互连失效、元器件与布线基板焊接/黏结失效、内引线键合失效、基板与金属外壳焊接失效、气密封装失效和功率电路过热失效等。一、HIC的失效类型混合集成电路的失效，从产品结构上划分失效主要分为两大类：组装、封装互连结构失效、内装元器件失效。其中，组装互连
早在两三年前，全球半导体行业面对了诸多困难，如消费电子需求低迷、芯片缺货、原材料不足、产业过热等，导致半导体行业库存过高，宏观经济低迷，再加上地缘政治语法紧张，市场需求大幅降低，同业竞争愈发激烈。经过两年的恢复，很多人对现在的半导体行业抱以
一、 摘要磁珠主要由铁氧体及线圈组成，磁珠抑制干扰的主要原理是利用高频时通过电阻发热将干扰消耗。如果长期处于干扰强烈的情况下，磁珠有可能过热烧毁。二、 问题描述我们的产品用在工业现场，产品在发货约1万台，运行两个月后，从客户返回约10台损坏的设备，经过研发分析，这些损坏的产品都是同一个地方损坏，如下
如果了解高通骁龙处理器的历史，电动会知道自从高通推出888终端系列处理器，备受大众批评，因为该系列处理器普遍存在过热发烫问题，当时也有人认为是三星5nm工艺制程的不足。如今这个发热问题可能即将被解决。近日，知名科技博主手机晶片达人针对网友问
电源芯片在电子设备中起着至关重要的作用，其故障可能会导致设备无法正常工作。以下是电源芯片常见故障及其原因分析：1. 过热故障· 症状：芯片温度异常升高，甚至烫手，设备可能会自动关闭或重启。· 原因：o 散热不良：散热设计不合理，散热器或散热
电源芯片在电子设备中扮演着至关重要的角色，但在实际应用中可能会出现各种故障。以下是一些常见的电源芯片故障及其原因分析：1. 过热故障· 原因：o 散热不足：散热设计不合理，散热器或风扇故障。o 环境温度过高：工作环境温度超过额定范围。o 负
