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MODE有效折射率结果与Uranus等人的结果非常接近。对于这种对数值网格的微小变化（以及实际制造缺陷）非常敏感的结构，计算损耗则更加困难，并且需要进行一些收敛测试才能找到更准确的结果。
收敛测试
我们首先将感兴趣的两种模式复制到全局DECK中，并将它们重命名为TE和HE，如下所示。
我们看到，当我们达到500x500网格数目时，有效折射率开始收敛，但需要更多的网格数目才能获得更高的精度。根据计算机上的内存量，可以将测试的最大单元数增加到 600x600或更多。损耗随着网格单元数增加而变化，但也开始在500x500网格数目下收敛。同样，可能需要进一步增加网格单元的最大数量以获得更准确的最终结果。500x500网格单元的结果是：
有效折射率的一致性非常好，损失正在向Uranus等人的结果收敛。
翻译：慧和聚成 - 徐丽敏
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