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​广大电子爱好者都有这样的体会,中、高档数字万用表虽有电容测试挡位,但测量范围一般仅为1pF~20mF,往往不能满足使用者的需要,给电容测量带来不便。本电路介绍的三位数显示电容测试表采用四块集成电路,电路简洁、容易制作、数字显示直观、精度较高,测量范围可达1nF~104mF。特别适合爱好者和电气维修人员自制和使用。

三位数字显示电容测试表

简介典型的半导体电容在pF或nF范围内。许多商业上可用的LCR表或电容计补偿后可以使用适当的测量技术来测量这些值,然而,一些应用需要在飞秒法(fF)或1e-15范围内进行非常灵敏的电容测量。这些应用包括测量金属到金属的电容,晶片上的互连电容,MEMS器件,如:开关,纳米器件端子之间的电容。如果没有使

微纳电容测量挑战:如何精准测量fF级超低电容?

电容电压(C-V)测量通常采用交流测量技术。而一些电容测量需要直流测量技术,被称为准静态C-V(或QSCV)测量,因为它们是在非常低的测试频率下进行的,即几乎是直流的。这些测量通常包括步进直流电压和测量所产生的电流或电荷。一些用于准静态C-V测量的技术包括 反馈电荷法和线性斜坡法。4200A-SCS

应用指南 | 如何用半导体参数分析仪进行斜坡法准静态C-V测量