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随着现代电力电子产品逐渐面向微型化、智能化、多功能化等全面发展，对电子设备及系统的抗辐射能力的要求越来越高，使其遭受电磁干扰（EMI）问题愈发严重，为保证正常运行，大多数设备都会进行电磁辐射发射测量方法。
1、电场辐射测试方法
对于在辐射发射频段在30MHz-1GHz内电场辐射应该在半电波暗室中进行，EUT随转台360°转动，天线在1-4m高度上下升降，寻找辐射最大值，结果用QP值表示。垂直、水平两种天线极化方向都测，而辐射发射频段大于1G的电场辐射在测量时，需要在3m场地使用频谱分析仪进行测量（如工作频率超过108MHz的ITE设备、超过400MHz的ESM设备等）。
2、磁场辐射测试方法
采用三环天线的磁场辐射测试没啥好说的，样品放置在天线中心，X/Y/Z三方向格测一组磁场辐射的结果。采用单小环天线时，天线垂直地面放置，最低部分高于地面1m，因为是近场测量，又考虑到了地面的反射，测量所得的值
3、骚扰功率测试方法
1对设备的所有长度超过25cm的电缆（也包括辅助设备线缆）都徐金星，因为在30-300MHZ内不同频点的骚扰在被测线缆中呈驻波形式，因此在测量中需要导轨拉功率吸收钳以寻找每个终测频点骚扰功率最大的位置（大致在离设备半波长的距离处）。
