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在高速PCB设计中,过孔的寄生电容直接影响信号完整性。通孔、背钻与盲埋孔因结构差异,寄生特性各不相同,需针对性优化。1、通孔的寄生电容通孔的寄生电容主要来自焊盘与地层的平板电容效应,计算公式为:C ≈ 1.41εTD1/(D2-D1)其中,

通孔、背钻、盲埋孔的寄生电容你算过吗?

今天跟大家聊聊,设计电路时,电源芯片旁边的大小电容该怎么布局。01从一次实际讨论说起前阵子在知识星球里,有同学在做一个小机器人项目时遇到了一个问题。他参考的开源项目里,电源芯片旁边的去耦电容是这么布的:5V电源线直接连到芯片引脚,再从引脚拉到电容。他觉得这个接法有问题:电流先进芯片再到电容,那电容

别小看这个细节:电容摆对了,噪声少一半

做硬件的应该都遇到过这种场景:板子画好了,器件焊上了,满怀期待上电——结果MCU毫无反应,下载器也连不上。排查半天,最后发现是晶振没起振。晶振不起振,绝对是硬件新手遇到的频率最高(字面意思)的问题。今天把这个坑讲透,以后不再在这里翻车。一、

晶振不起振?硬件新手最容易卡住的第一个坑

上周帮一个学员看他的48V转12V降压电源,板子打回来调试了半天,效率死活卡在84%。换了个更低Rds(on)的MOS管,加了昂贵的日系电容,折腾了一圈——还是那个数。他跟我说:"师兄,这料都堆上了,怎么还不行?"我让他把板子发过来,看了一

开关电源效率卡在85%上不去?多半是这3个走线细节在作怪

射频开关的隔离度是衡量信号泄漏的关键指标,尤其在高频段,隔离度随频率升高快速衰减的问题,已成为制约系统性能的瓶颈。本文聚焦频段高端隔离度下降的成因与补偿策略。1、隔离度衰减的物理根源高频信号的波长缩短,导致寄生电容、电感等效应加剧。例如,P

射频开关的隔离度在频段高端掉得快,怎么补?

记得刚入行那会儿,做一个DCDC降压模块,原理图改了三版,参数调了一周,结果上电一测——纹波200多mV,远超规格的50mV。芯片换了三个,电感换了五六款,示波器都快被我折腾坏了。最后发现,问题根本不在器件选型,就出在输入电容离IC那2cm

PCB上这几个电源布局细节,90%的工程师都踩过坑

电源启动时,大容量电容的充电过程会产生巨大浪涌电流,可能损坏电路元件或影响电网稳定。许多人首先想到的是加电容来平滑电流,但电源软启动电路的设计远不止于此。1、传统电容方案的局限单纯增加电容虽能储存电荷,但无法主动限制浪涌电流。尤其在电源频繁

电源软启动电路:别只知道加电容

说起来挺有意思的,上周实验室新来的小兄弟调一块 Buck 板,纹波死活下不来。一上来就把输出电容从 100μF 换成 470μF,又换成 1000μF 的电解,折腾了两天还是 200 多 mV。最后我过去看了一眼,三分钟就找到了问题所在。这

开关电源纹波大?别急着换电容,先看看这 3 个地方

在高速PCB设计中,过孔看似打通了信号传输路径,但高速信号却常因过孔问题无法稳定传输。这背后隐藏着哪些技术细节?1、过孔的“隐形杀手”:寄生效应过孔并非简单的连接通道,其结构(焊盘、钻孔、铜柱、反焊盘)会引入寄生电容和电感。在低速信号中,这

高速信号过孔之谜:通了为何不过?

前阵子有个学员跟我吐槽,说用STM32做触摸按键,灵敏度怎么调都不对。阈值设小了容易误触发,设大了又按不动,换了几个电容值都不行。他都快怀疑人生了——是不是芯片坏了?我问他用的什么方案,他说就普通的单按键检测。我一看他的PCB,好家伙,明明

触摸按键用MCU直接做,自电容和互电容选错灵敏度过不去