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CH340芯片通过USB转换出来的TTL串口输出和输入电压是根据芯片供电电压是自适应的。也即,如果芯片是5V供电,那么串口输出和采样都是5V;如果是3.3V供电,那么标准就成了3.3V,因此在实际使用的时候,电路设计串口连接到的对端设备需要注意电压匹配的问题。其中在5V供电模式下,是可以与3.3V系统兼容的,反过来则不可以,如果CH340是3.3V供电,那么不可以接5V系统,会损坏芯片。另外如果对端是1.8V系统,那么是不能与CH340的3.3V模式兼容的,此时输出和采样会出错。最好加一些器件来

CH340g电路设计注意事项

电路设计常用直流电源 在很多的电子产品设计中,电源部分是极为重要的,也是很容易损坏的。一方面是输入的电源极性错误,这个我们之前的文章,也介绍了一部分防止极性发生错误的电路。另外一方面是输入的电压过高。下面我们主要讨论如何简单、可靠的解决电路设计这个问题。 比如在电子器件电源前端的电源不稳定,如汽车电瓶在汽车启动时,会产生很大的浪涌电压。对于此类过压电源的保护,一般采用TVS管去保护。一般应保证TVS管应工作在后端电源芯片器件的正常电压VCC以上,最大工作电压Vmax以下。 TVS管应用电路

电路设计之过压保护电路

可控硅的保护电路设计,大致可以分为两种情况:一种是在适当的地方安装保护器件,例如,R-C阻容吸收回路、限流电感、快速熔断器、压敏电阻或硒堆等。再一种则是采用电子保护电路,检测设备的输出电压或输入电流,当输出电压或输入电流超过允许值时,借助整流触发控制系统使整流桥短时内工作于有源逆变工作状态,从而抑制过电压或过电流的数值。 1. 电路设计过流保护 可控硅设备产生过电流的原因可以分为两类:一类是由于整流电路内部原因, 如整流可控硅损坏, 触发电路或控制系统有故障等; 其中整流桥可控硅损坏类较为严重,

可控硅保护电路设计方法

电容损坏引发的故障在电子设备中是最高的,其中尤其以电解电容的损坏最为常见。电容损坏表现为:容量变小、完全失去容量、漏电、短路。

哪些元器件最容易引发电路故障?

电容损坏引发的故障在电子设备中是最高的,其中尤其以电解电容的损坏最为常见。电容损坏表现为:容量变小、完全失去容量、漏电、短路。

没想到,电路板上最容易出故障的居然是它!

COB封装即chip On board,就是将裸芯片用导电或非导电胶粘附在互连基板上,然后进行引线键合实现其电气连接。如果裸芯片直接暴露在空气中,易受污染或人为损坏,影响或破坏芯片功能,于是就用胶把芯片和键合引线包封起来。人们也称这种封装形式为软包封。

COB封装绑定IC