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问:对于金属外壳的DUT,在测试CEI和CEV的时候,接地和不接地这两种case为什么结果有大差异,可以画图详细解释一下吗?答:思考清楚附图的问题,你的疑惑估计就解决了。CEI和CEV本质都是测试线束上的噪声电流值,接地与不接地改变的就是这
请问一下射频电路中电源电路24v降压为3.3v,加一个金属屏蔽罩,这个屏蔽罩接3.3的地还是大地,还是24V的地?,
问:对于金属外壳的DUT,在测试CEI和CEV的时候,接地和不接地这两种case为什么结果有大差异,可以画图详细解释一下吗?答:思考清楚附图的问题,你的疑惑估计就解决了。CEI和CEV本质都是测试线束上的噪声电流值,接地与不接地改变的就是这
请问一下射频电路中电源电路24v降压为3.3v,加一个金属屏蔽罩,这个屏蔽罩接3.3的地还是大地,还是24V的地?,