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IC芯片流片前,确保驱动与负载设计的合理性与可靠性是至关重要的步骤,可以说驱动和负载的存在,将直接关系到芯片的性能、功耗及成品率。那么如何做?1、金属线电流负载能力验证严格评估金属线(尤其是关键路径上的)能否承受预期的工作电流,避免因电流

IC芯片想要流片,驱动/负载如何做?

IC芯片进入流片阶段前,工程师必须做好大量准备,确保后续环节的顺利进行,而合理的布局设计是确保芯片性能、可靠性和成本效益的关键。1、Pin布局优化明确pin的引出方向和位置,特别是将时钟pin与模拟信号pin保持适当距离,以减少信号干扰。

IC芯片想要流片,布局如何做?

半导体芯片的测试和SAT(SilICon Analysis Test)分析是确保芯片性能和可靠性的关键步骤。SAT分析通常包括以下几个方面:1. 功能测试· 逻辑功能测试:验证芯片的逻辑功能是否符合设计规范,包括各个输入和输出的响应。· 边

芯片SAT分析是什么?有哪些流程?

IC(集成电路)外观缺陷检测是确保芯片质量和可靠性的关键步骤。以下是一个典型的IC外观缺陷检测方案流程:1. 准备阶段· 设备准备:选择合适的检测设备,如显微镜、自动光学检测(AOI)系统等。· 样品准备:确保待检测的IC样品干净,无污染物

无法判断芯片外观有缺陷?不如测试一下!

Keysight 是德科技的 PathWave ElectrICal Performance Scan (EP-Scan)是一款可独立运行的 EM 电磁信号仿真软件,仿真结果包括信号完整性度量方面的信息,如通道回波损耗、插入损耗和阻抗时域反射计(TDR)。EP-Scan 可以自动化进行不同设计版本之

Keysight EP-Scan 高效信号完整性分析软件下载

在电子技术中,单片机(MICrocontroller Unit, MCU)毫无疑问是镶嵌在各类智能设备中的核心“大脑”,十分重要,备受市场欢迎。在高需求催化下,许多人选择成为单片机工程师。那么当一个电子小白通过学习成为了单片机大佬,这其中单

新手速成大佬,六大单片机如何选?

ESD(ElectrostatIC Discharge),静电释放,指一种现象。这里指静电释放防护器件。TVS (Transient Voltage Suppressor),这表示它是一种瞬态电压抑制器TVS管和ESD管的区别是:工作原理是一样的,但功率和封装是不一样的;ESD主要是用来防静电,寄生

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ESD和TVS到底有什么区别,很多人分不清

工程师都在知道在设计的时候会考虑到ESD,通常也会使用到TVS二极管。但是重点在于需要多保护,什么时候不需要保护了?这篇文章会对电路进行模拟。一、ESD 保护电路的作用主要就是减少电压和电流,一旦减少,IC的内部ESD保护就可以解决剩下的问题。下图显示了普通PIC16控制器的框图,虽然说并不是所有的

仿真说一说ESD解决方案

前一段时间有个兄弟问了个问题,把我问住了,问题是这个:如上图,串联的电阻R1到底是放在靠近IC端,还是靠近MOS端?(注意,图中的L1是走线寄生电感,并不是这里放了个电感器件) 我们具体沟通的情况是这样的: 这位兄弟说大部分工程师和IC原厂都是这么做的,但是没有说为什么,我当时也不清楚。但是这个问题

PCB Layout时,MOS管栅极串联电阻放哪儿?

简介后摩尔时代,半导体产业面临着制程技术逼近物理极限的挑战。为实现“超越摩尔定律”的目标,2.5D/3D 封装技术加速发展。本文将探讨一种由交通大学陈智教授意外发现的革命性材料——纳米双晶铜,其在3D芯片封装中的应用及观察方法。什么是纳米双晶铜?纳米双晶铜是指铜的微观结构呈现(111)单一方向柱状晶

革命性材料:3D IC 封装应用中的纳米双晶铜