扫码关注
- 全部
- 默认排序
随着科技的进步和应用范围的不断扩大，人们对于电子元器件的质量和可靠性要求也越来越高，因为电子元器件的低温失效会严重影响产品的稳定性和寿命。今天我们就来详细了解一下低温对电子元器件的影响及其失效原因。1. 低温对电子元器件的影响低温是指物体的
对于电子元器件的测试，不同的元器件类型可能需要采用不同的测试方法。以下是一些常见电子元器件的测试方法：二极管：使用万用表测试正向和反向电阻，以及正向电压降。使用二极管测试笔或专用二极管测试仪器进行测试。电阻器：使用万用表的电阻测量功能来测试
二极管PN结形成
我们上一次说了将半导体制作成本征半导体的目的就是为了能有效的控制半导体的特性为我们所用，那我们今天就来讲一下我们用本征半导体能做成什么东西。首先接触过电子行业的人都会知道，我们电路是由电子元器件构成的，而电子元器件中最基础的元器件莫过于电阻、电容、电感、二极管、三极管等等。而其中的二极管和三极管我们
元器件的识别及测量在电子工程和维修中是非常重要的技能。以下是一些常见元器件的识别方法及测量仪器的使用方法：常见元器件的识别电阻器（Resistor）：外观：通常为圆柱形或矩形，表面有色环或数字标识。色环标识：通过色环的颜色来确定电阻值和公差
电子元器件的检验和筛选是确保其质量和性能的重要过程。以下是一些常见的检验和筛选步骤：1. 外观检查封装和引脚：检查封装是否有破损、划痕或其他物理损伤，引脚是否有氧化、弯曲或损坏。标识和文字：核对元器件上的标识和文字是否清晰，是否与规格书中的
元器件检测是确保电子产品质量和可靠性的重要步骤。在进行元器件检测时，需要注意以下几个方面：1. 测试前的准备工作1.1 确认检测设备和工具· 校准检测设备：确保所有检测设备（如万用表、示波器、LCR表等）已校准并正常工作。· 准备必要工具：
IC（集成电路）芯片是否翻新或原装通常很难仅凭肉眼判断，但有一些技巧和方法可以帮助识别。翻新的IC可能是从旧设备中拆下来，清洁后重新标记，并作为新的销售。以下是一些判断IC是否翻新的方法：1. 外观检查· 标记字体：比较芯片上的标记与制造商
电解电容损坏有什么表现？
电解电容是应用广泛的电子元件，它的性能稳定性对电路的正常运行至关重要，然而，在使用过程中可能会遇见电解电容的损坏现象，从而影响电路的整体性能，那么如何判断电解电容是否损坏？1、电容值变小电解电容损坏后，电容值可能显著减小，导致无法存储和释放
电子元器件的成分分析检测可以帮助识别材料的组成、质量和合规性。常见的检测方法包括：1. 光谱分析· X射线荧光光谱（XRF）：用于快速分析材料的元素组成，适合检测金属和非金属元素。· 能量色散X射线光谱（EDS）：通常与扫描电子显微镜（SE
在电子设计中，理解并正确设计电子元器件的等效电路，是许多电子工程师经常会遇见的事情，这种做法可简化复杂元件的电气特性，便于电路分析和设计，但是如何针对这些元器件做出合适的等效电路，难度有点高，那么如何做？1、贴片电容器主要包括电容C、寄生电
